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教授
性别：男
毕业院校：西安电子科技大学
学历：大学本科毕业
学位：大学本科毕业
在职信息：退休
所在单位：微电子学院
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Investigation of Leakage Current Mechanisms in La2O3/SiO2/4H-SiC MOS Capacitors with Varied SiO2 Thickness
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所属单位：微电子学院
论文名称：Investigation of Leakage Current Mechanisms in La2O3/SiO2/4H-SiC MOS Capacitors with Varied SiO2 Thickness
发表刊物：JOURNAL OF ELECTRONIC MATERIALS
第一作者：Wang, Yucheng^Jia, Renxu^Zhao, Yanli^Li, Chengzhan^Zhang, Yuming
论文类型：Article
论文编号：SCI WOS:000385021300014
卷号：45
期号：11
页面范围：5600-5605
ISSN号：0361-5235
是否译文：否
发表时间：2016-01-01
收录刊物：SCI