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个人信息Personal Information
教授
性别：男
毕业院校：西安电子科技大学
学历：大学本科毕业
学位：大学本科毕业
在职信息：退休
所在单位：微电子学院
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Study on reverse-biased gate leakage current mechanisms in Al2O3/InAlAs metal-oxide-semiconductor structures
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所属单位：微电子学院
论文名称：Study on reverse-biased gate leakage current mechanisms in Al2O3/InAlAs metal-oxide-semiconductor structures
发表刊物：THIN SOLID FILMS
第一作者：Jin, Chengji^Lu, Hongliang^Zhang, Yimen^Guan, He^Li, Zheng^Zhang, Yuming
论文类型：Article
论文编号：SCI WOS:000389610900007
卷号：619
页面范围：48-52
ISSN号：0040-6090
是否译文：否
发表时间：2016-01-01
收录刊物：SCI