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教授
性别:男
毕业院校:西安电子科技大学
学历:大学本科毕业
学位:大学本科毕业
在职信息:退休
所在单位:微电子学院
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Study of drain induced barrier lowering (DIBL) effect and subthreshold characteristics of fully-depleted Ge NMOS with P-substrate
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所属单位:微电子学院
论文名称:Study of drain induced barrier lowering (DIBL) effect and subthreshold characteristics of fully-depleted Ge NMOS with P-substrate
发表刊物:SUPERLATTICES AND MICROSTRUCTURES
第一作者:Liu, Xiangyu^Hu, Huiyong^Zhang, Heming^Wang, Bin^Yang, Jiayin^Han, Genquan
论文类型:Article
论文编号:SCI WOS:000391905300128
卷号:100
页面范围:1230-1237
ISSN号:0749-6036
是否译文:否
发表时间:2016-01-01
收录刊物:SCI